Độ phân giải cao 0.95 µm – phát hiện micro-cracks và void BGA chính xác.
Open Tube công nghệ thế hệ 4 – 3 W, 30–160 kV.
Màn hình detector AspireFP™ 1.33 MP, 10 fps – hình ảnh sắc nét.
Xem nghiêng kép (2 × 65°) – kiểm tra toàn diện 360° quanh điểm quan tâm.
Khu vực kiểm tra lớn: 510 × 445 mm.
Tuân thủ chuẩn an toàn X-ray <1 µSv/h.
Hỗ trợ mua hàng Online 0912 817 117
TP.HCM: Giao hàng Miễn Phí các quận cho đơn hàng từ 1.000.000
Các tỉnh: Ship COD toàn quốc (Xem chi tiết)
Jade Plus là hệ thống kiểm tra X-ray thủ công độ phân giải cao, thân thiện với người vận hành, được thiết kế để phát hiện lỗi nhanh và chính xác cho sản xuất điện tử, lắp ráp PCB và kiểm soát chất lượng vi linh kiện. Được trang bị ống phát X-ray dạng open tube độ phân giải 0.95 µm, góc quan sát nghiêng kép và phần mềm kiểm tra trực quan Gensys®, Jade Plus chuyển đổi độ rõ của hình ảnh thành dữ liệu định lượng.
Từ phát hiện nứt nhỏ trong passives đến phân tích độ rỗng trong bi hàn BGA, Jade Plus vượt xa phạm vi kiểm tra hình ảnh thông thường bằng cách biến hình ảnh thành dữ liệu đo lường phù hợp tiêu chuẩn. Tùy chọn µCT 3D giúp nâng mức phân tích chuyên sâu, khiến Jade Plus phù hợp cả cho môi trường sản xuất và phòng thí nghiệm phân tích lỗi (Failure Analysis).
|
Hạng mục |
Thông số |
|---|---|
|
Công nghệ ống |
Open transmissive, tungsten filament |
|
Nhận dạng đặc điểm |
0.95 µm |
|
Công suất mục tiêu ống |
3 W |
|
Dải điện áp |
30 – 160 kV |
|
Bộ dò |
AspireFP™ Flat Panel |
|
Độ phân giải |
1.33 MP |
|
Tốc độ khung hình |
10 fps |
|
Xử lý hình ảnh |
Số hóa 16-bit |
|
Phần mềm |
Gensys® (Windows 10) |
|
Vận hành |
Point-and-click (tùy chọn joystick) |
|
Góc quan sát nghiêng |
2 × 65°, xoay 360° |
|
Vùng kiểm tra |
510 × 445 mm (20 × 17.5”) |
|
Độ phóng đại |
Tối đa 7,500× |
|
Màn hiển thị |
24" WUXGA (1920 × 1200) |
|
Kích thước hệ thống (W × D × H) |
1.45 × 1.70 × 1.97 m |
|
Khối lượng hệ thống |
1,950 kg (4,300 lbs) |
|
Khí nén |
Không yêu cầu |
|
An toàn X-ray |
< 1 µSv/giờ (tuân thủ tiêu chuẩn toàn cầu) |
Chia sẻ nhận xét về sản phẩm
