Kính hiển vi siêu âm C-SAM Nordson D9650 là hệ thống kiểm tra không phá hủy sử dụng sóng siêu âm tần số cao để tạo hình ảnh có độ phân giải cao về cấu trúc bên trong mẫu.
Thiết bị giúp phát hiện các khuyết tật như rỗ khí, vết nứt, phân lớp, vùng xốp, khe hở không khí và lỗi liên kết vật liệu. D9650 phù hợp kiểm tra IC, BGA, QFN, wafer, substrate, tụ điện, module IGBT cùng nhiều loại vật liệu gốm, kim loại, polymer và composite.
Hệ thống hỗ trợ chế độ kiểm tra phản xạ và truyền qua, được điều khiển bằng phần mềm Nordson Sonolytics, phù hợp cho ngành điện tử, bán dẫn và nghiên cứu vật liệu.
Hỗ trợ mua hàng Online 0912 817 117
TP.HCM: Giao hàng Miễn Phí các quận cho đơn hàng từ 1.000.000
Các tỉnh: Ship COD toàn quốc (Xem chi tiết)
| Tên | Chi tiết |
|---|---|
| Hãng sản xuất | Nordson Test & Inspection |
| Model | CSAM D9650 |
| Công nghệ kiểm tra | Scanning Acoustic Microscopy – C-SAM |
| Vùng quét tối đa | 314 × 314 mm |
| Tần số đầu dò | 5–300 MHz, tùy cấu hình |
| Chế độ kiểm tra | Phản xạ và truyền qua |
| Phần mềm điều khiển | Nordson Sonolytics |
| Nguồn điện | 100–240 VAC, 50/60 Hz |
| Ứng dụng | Điện tử, bán dẫn và vật liệu |
Hãng sản xuất: Nordson Test & Inspection
Model: CSAM D9650
Công nghệ kiểm tra: Kính hiển vi âm học quét C-SAM
Nguyên lý hoạt động: Siêu âm xung phản hồi Pulse-Echo
Chế độ kiểm tra: Phản xạ và truyền qua
Vùng quét tối đa: 314 × 314 mm
Độ chính xác trục X-Y-Z: ±0,5 µm
Tần số đầu dò: 5–300 MHz, tùy theo đầu dò và cấu hình hệ thống
Bộ phát/thu kỹ thuật số: 500 MHz
Dải khuếch đại: 95 dB, điều chỉnh từng bước 0,5 dB
Số cổng thu nhận dữ liệu: Tối đa 100 gates
Khoảng cổng kỹ thuật số: 1–10.000 ns
Độ phân giải hình ảnh: 4 MP tiêu chuẩn, tùy chọn đến 67 MP
Các chế độ phân tích: A-Scan, B-Scan, C-Scan, Surface Scan, Interface Scan, Bulk Scan, LoBE, Q-BAM và THRU-Scan
Phần mềm điều khiển: Nordson Sonolytics
Nguồn điện: 100–240 VAC, 50/60 Hz, 15 A
Kích thước hệ thống: Khoảng 1.892 × 735 × 1.593 mm
Tiêu chuẩn đáp ứng: RoHS, NFPA 79 và SEMI S2
Chia sẻ nhận xét về sản phẩm
